Контроль качества объектива на интерферометре ИКД-110
Страница 2
2- плоский эталон;
3- испытуемый объектив;
4- экран в идее металлической сетки, служащий для настройки схемы;
5- дополнительное сферическое зеркало.
интерференционная картина возникает между волновым фронтом, отраженным от рабочей поверхности эталона, и волновым фронтом, прошедшим через объектив, отраженный от дополнительного эталонного сферического зеркала и еще раз прошедшим через испытуемый объектив в обратном направлении. Т.О. кратность прохождений испытуемого волнового фронта через объектив равна 2.
Перейти на страницу: 1 2